EMI測試系統(tǒng)是通過測量受試設(shè)備在正常工作狀態(tài)下產(chǎn)生并向外發(fā)射的電磁波信號的大小來反應(yīng)對周圍電子設(shè)備干擾的強弱，電磁騷擾試驗主要包括傳導(dǎo)發(fā)射、輻射發(fā)射、功率騷擾、磁感應(yīng)電流、喀嚦聲騷擾、電流諧波、電壓波動與閃爍等，電磁干擾是由干擾源、耦合通道和EMI接收器三部分構(gòu)成的，通常稱作干擾的三要素。

 

　　該系統(tǒng)采用windows作為載體，使用者如熟悉windows的操作便可很快上手。該機可獨立進行測試工作無須外加其他控制設(shè)備對其進行控制操作，從根本上解決了干擾源的問題。其測量結(jié)果可輸入接收機內(nèi)硬盤或通過軟驅(qū)存入軟盤或直接打印輸出或使用USB存儲設(shè)備保存。

 

　　EMI測試系統(tǒng)在硬件和軟件上有諸多創(chuàng)新，突出亮點有：

 

　　1、利用可編程的人機協(xié)作機械臂，實現(xiàn)自動化掃描過程。

 

　　2、工作頻率覆蓋30MHz-8GHz（可擴展至18GHz）。

 

　　3、支持頻譜儀（SA）和矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）等儀器的控制和數(shù)據(jù)讀取。

 

　　4、支持近場掃描、遠場掃描以及遠場到近場的場波變換。

 

　　通過EMI測試系統(tǒng)提供的測試平臺和操作軟件，可實現(xiàn)頻率電磁干擾噪聲源自動掃描和定位，給用戶提供更多噪聲源信息，以便進行相應(yīng)的電磁干擾診斷和抑制。近場掃描通過安裝在機械臂的探頭進行掃描，使用頻譜儀（SA）或矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）可獲得掃描平面上被測件輻射場的幅度信息。遠場ESM掃描額外增加一個參考探頭，使用VNA來獲取掃描平面上場的幅值和相位。遠場ESM掃描可將掃描平面上的輻射場變換到近場高度，從而對遠場輻射源進行有效定位。